Circuit intégré (IC) de décharge électrostatique (ESD) robustesse se distingue par une série de tests. Le type le plus commun de test est le modèle corps humain (HBM) et le modèle de dispositif de charge (MDP). Ces deux types de tests con?us pour révéler contiennent ESD Basic ESD environnement de fabrication contr?lée, le circuit subsistant dans quelles circonstances le stress ESD. HBM ESD est le test le plus ancien de l'application, mais les experts de contr?le ESD usine croient généralement que dans les opérations d'assemblage hautement automatisées modernes, tests CDM ESD est plus important. Importance des contraintes MDP varie avec la taille de l'appareil. à propos de ?sagesse conventionnelle? du MDP est plus la taille d'une très petite scie pas nécessaire de tester des circuits intégrés, parce que le courant de crête est rapide. 1. Le mécanisme de répartition répartition Zener diode inverse en claquage inverse par Zener et claquage par avalanche dans les deux cas. Dans le cas de forte concentration en impuretés, en raison de la largeur de la barrière est la distribution de petite Fairchild, tension inverse plus grande Fairchild conduire prix, saper la structure de liaison covalente de la région de barrière de potentiel, de sorte que l'électron de valence de la covalente contrainte de clé pour produire paires électron - trou, ce qui entra?ne une forte augmentation du courant, qui est appelé répartition de Zener. Si la concentration de dopage est faible, la largeur de la barrière est plus large, non sujette à zener. 2. Une autre répartition d'avalanche de claquage par avalanche. Lorsque la tension inverse est augmentée à une valeur plus grande Fairchild, le champ électrique appliqué pour accélérer la vitesse de dérive des électrons, ainsi covalentes électrons entrent en collision liaison de valence, les électrons de valence frappé liaison covalente, produisant de nouvelles électron - trou droite. La nouvelle génération de l'électron - trou est ensuite déloger autre champ électrique accélère les électrons de valence, une avalanche de transporteurs augmente, ce qui entra?ne une forte augmentation du courant, qui est appelé claquage par avalanche. Soit panne, si son décochée actuelle, peut entra?ner des dommages permanents à la jonction PN. La technologie MRA4007T3G Nanjing Fairchild Fairchild _ _ 耀坤 Technologie (marchands certifiés) fournies par Nanjing 耀坤 Technology Limited. Nanjing Yaokun Ltd (www.njykkj.com) est spécialisée dans le "IC, FET, relais, module d'alimentation" de l'entreprise, la société de concept ?honnêteté, le service dur", pour vous offrir le plus de qualité produits et services. Bienvenue à se enquérir! Contact: Yang Kun.